二手 JEOL JWS 7515 #9298655 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 9298655
Scanning Electron Microscope (SEM), 8" 1999 vintage.
JEOL JWS 7515掃描電子顯微鏡是一種用於先進科學和工業研究的高精度儀器。它具有亞納米分辨率的能力,可以詳細描述許多材料的納米級結構。它配備了野外發射槍和數字PC控制器,提供可靠的性能和多功能性。JEOL JWS-7515專為最大的多功能性和用戶友好性而設計,非常適合廣泛的活動,如材料課程分析、損壞分析、故障分析、裝配過程、金相等。其標準分辨率為0.5nm,允許納米尺寸結構的高分辨率成像。該設備具有以下優點,如更大視野的非接觸成像、標本觀測的廣泛靈活性、四維測量能力(X、Y、Z和Energy)以及出色的重復性。它還具有可選的附加軟件工具,允許自動圖像處理和量化。該裝置配有JEOL EDS檢測器,可提供優異的分辨率和快速的化學成分及分布分析。該設備還提供了廣泛的成像模式,如二次電子、反向散射電子、陰極發光和鏡內探測器。JWS 7515非常適合廣泛的工業、研究和教育應用。它結合了出色的圖像質量、準確性和分辨率,同時為用戶的成像和分析需求提供了完全的靈活性。此外,該設備還具有用戶友好的圖形用戶界面和各種有用的操作功能,使其易於廣泛的操作員使用。
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