二手 JEOL JWS 7515 #9392789 待售

JEOL JWS 7515
製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 9392789
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 7515是一種掃描電子顯微鏡(SEM),具有優異的圖像質量和分析能力。它提供高分辨率、低放大成像的表面特征到原子水平。7515配備了廣泛的能量色散光譜(EDS)、波長色散光譜(WDS)、陰極發光(CL)和電子反向散射衍射(EBSD)分析技術。7515具有寬闊的標本室和容納各種樣本量和形狀的能力。大腔室配合其自動化的樣品處理,以允許有效的樣品定位。它還允許以超微切開(UMT)、臨界點幹燥(CPD)和低真空(LV)STEM成像等多種模式進行操作。7515有一個列內能量過濾選項,允許用戶為自己選擇的應用選擇最佳的分析特征。在軸上電子槍提供高達低電壓降低結構損傷。電子束穩定性高,使得低壓圖像信噪比優越,降低了樣品損壞的風險,並允許最大限度的樣品保存。7515提供了出色的自動圖像采集控制和易於自動操作的標本階段.它包括用戶友好的圖形用戶界面(GUI)軟件,具有一系列針對EDS、WDS、CL和EBSD的分析和可視化功能。7515可以在多種降噪模式下運行,以最大程度地減少圖像偽影,減少手動調整圖像的需要。它的高分辨率和分析能力使JEOL JWS-7515許多科學和學術領域的審閱者的有力工具,它的多功能性使其適合各種研究需求。它穩定的電子槍和用戶友好的軟件使它成為新用戶的一個簡單選擇。其先進的分析能力和自動化的標本處理系統使其成為高級用戶的強大工具。
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