二手 JEOL JWS 7515 #9399595 待售

JEOL JWS 7515
製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 9399595
晶圓大小: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
JEOL JWS 7515是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。它旨在提供高分辨率成像和對各種樣品的詳細分析,包括生物和無機標本。顯微鏡具有一種場發射槍,當使用時具有較高的放大倍率,能提供卓越的性能和穩定性。該槍還產生高靈敏度二次電子探測器,使得能夠在低真空和高真空環境中進行詳細成像。此外,JEOL JWS-7515還配備了獨特的可變壓力設備,允許用戶在不大幅改變圖像分辨率的情況下調整腔室的壓力。JWS 7515提供了廣泛的成像和分析能力,如反向散射電子(BSE)成像、腐蝕成像、陰極發光成像、能量色散X射線光譜(EDS)、定向束陰極發光。BSE成像使用戶能夠區分樣品中的不同元素,而腐蝕成像可以顯示樣品上存在腐蝕。陰極發光成像用於分析電子束發出的樣品,而EDS則可用於確定樣品的成分。顯微鏡的定向束陰極發光對具有高含量有機材料的成像標本特別有幫助。JWS-7515還包括一個輔助電子探測器,可用於獲取材料表面結構的高分辨率圖像和檢測表面地形。顯微鏡的低真空設置提供了卓越的成像,而不犧牲分辨率,而它的高真空設置使得成像在超高放大倍率。顯微鏡還包括一個鏡頭內導航系統,讓用戶能夠輕松控制顯微鏡的視野。此外,JEOL JWS 7515還包括各種軟件包,如EasyScan 3單元和一個開源軟件平臺,為用戶提供大量的圖像後處理選項。綜上所述,JEOL JWS-7515是一種精密的掃描電子顯微鏡,旨在為各種樣品提供卓越的成像和詳細分析。顯微鏡以野外發射槍、二次電子探測器、可變壓力機為特色,讓使用者能夠精確地成像各種樣本類型。此外,JWS 7515還包含各種用於後處理映像的軟件包,這使其成為尋求高質量SEM的用戶的絕佳選擇。
還沒有評論