二手 JEOL JWS 7515 #9412229 待售

JEOL JWS 7515
製造商
JEOL
模型
JWS 7515
ID: 9412229
晶圓大小: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
JEOL JWS 7515是一種掃描電子顯微鏡(SEM),結合了高分辨率和優秀的景深。其設計以經過驗證的JEOL JMS系列SEM為基礎,具有優於1.7mm的精細級樣品平整度。JEOL JWS-7515通過使用冷場發射槍(FEG)和數字圖像檢測器最大限度地提高分辨率和圖像對比度。它提供高速成像,實時幀速率高達每秒200幀。JWS 7515是一種中高真空SEM,意味著它在中等二次至高一次真空的壓力範圍內運行。在這種類型的環境中,電子可以很容易地傳播,很少碰撞。這創造了一個具有良好景深的高分辨率圖像,因為從FEG發出的電子通過物鏡加速並朝著舞臺上的樣品。可以調整JWS-7515的物鏡,在5倍至300 kx的放大倍數範圍內獲得清晰的圖像。JEOL JWS 7515包括氣體清除設備和自動級控制。這允許用戶調整樣本的位置並精確定位感興趣的元素。即使在通過氣體凈化系統手動操作階段,真空條件也可以維持。氣體清除裝置還防止汙染物進入SEM的真空空間。JEOL JWS-7515具有幾個增強SEM成像的功能。其中包括對比度和彩色數字成像、光束電流監視器(BCM)和自動背面成像(ABi)。對比度和彩色數字成像模式提高了低信號樣本的清晰度和對比度,而BCM則有助於保持一致的成像條件。通過ABi,用戶可以對樣品背面的特征進行成像和測量,並分析兩側的形狀和表面形態。JWS 7515由於其高分辨率和景深,是許多SEM應用的絕佳選擇。它具有多種功能和實用程序,可提高成像質量和準確性。其氣體凈化機和自動級控制使得它非常適合苛刻的應用。憑借其高速幀速率,JWS-7515可以快速拍攝詳細圖像。
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