二手 JEOL JWS 7550 #137194 待售

JEOL JWS 7550是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於以納米尺度可視化物體。它配備了3.2納米分辨率的成像系統，提供各種樣品類型的高分辨率圖像。根據所觀察樣品的類型，它能夠以低能或高能模式運行。可通過用戶友好的軟件界面訪問該系統。這個直觀的界面允許快速的示例操作和調整過程。該軟件還可用於創建樣本曲面的詳細圖像,以便進行精確分析。此外，還提供了一系列其他分析功能，如元素映射、線形掃描、X射線分析和電子反向散射成像。JWS 7550提供了一個易於使用的平臺,用於快速分析需要復雜細節和分析的樣品。在設計上，JEOL JWS 7550由一列、底座、槍組成。底座采用壓鑄鋁制框架，表面經過陽極氧化處理，耐用，易於清潔。該柱由經過加工的鋁合金制成,具有剛性設計,性能可靠。該槍組件由電子槍、電子源和供觀察的樣品底物組成。還安裝了電容膜片，用於濾波和隔離電子束。JWS 7550被構造成無維護和自我性能測試，以確保每一個單元是最佳的表現。此外，還提供各種附件，以協助樣品的制備和分析。多種多樣的成像技術使得這種SEM成為各種研究需求的理想選擇。JEOL JWS 7550是一個強大的成像工具，提供了對納米級粒子結構和特性的寶貴洞察。它能夠產生與其他SEM相當的分辨率,同時為用戶提供直觀的界面,這使得它成為各種研究應用程序中的絕佳選擇。