二手 JEOL JWS 7555 #293791443 待售
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ID: 293791443
晶圓大小: 8"
優質的: 1998
Wafer inspection system
Display unit
Power distribution unit
(2) NORAN EDS Monitors
PC
Analyzer
Cables
Chiller
1998 vintage.
JEOL JWS 7555掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高端多功能工具，旨在在各種研究和工業應用中達到高水平的性能。7555配備了能量色散X射線（EDX）微分析設備，使其能夠識別和分析試樣的元素組成，直至亞微米分辨率。SEM還具有可變壓力和環境操作模式，使用戶能夠在各種環境中觀察和分析生物、地質和其他材料。7555的高分辨率成像功能令人印象深刻,在15 keV的加速電壓下,該設備的分辨率低於0.5 nm。它還提供了廣闊的視野和較大的視野深度，以便可以觀察和分析一個標本的多層。最大放大倍數為150,000倍，它提供了一個漂移校正系統，用於穩定成像。它還支持幾種控制設備，包括數碼相機、電子束顯微鏡和低真空室。強大的EDX單元允許7555從直徑小至50 nm的樣品中激發和檢測X射線。它配備了能量濾波器，以提高X射線的質量，並有一個動態範圍廣泛的探測器，使它能夠分析廣泛的元素。它具有定性和定量分析能力，使其能夠識別樣本中的元素，並顯示所述元素的相對濃度。7555也相當用戶友好，具有直觀的控件和功能豐富的圖形用戶界面。用戶可以保存和調用圖像、自動執行其過程以及執行屏幕操作。它還具有很好的集成安全功能，如內置聯鎖和實時狀態信息。JWS 7555掃描電子顯微鏡具有獨特的特點，是許多工業和研究應用的理想選擇。
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