二手 JEOL JWS 7555 #9298946 待售

JEOL JWS 7555是一種高端掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對表面和結構進行高分辨率成像和分析。顯微鏡具有5納米分辨率的點對點精度,使其能夠對20納米或更大的特征進行詳細的圖像。該柱針對低加速度和現場發射進行了優化，以確保最大性能和分辨率。JWS 7555配備了專門的高靈敏度超快電子探測器，可提高信噪比，使超小圖像能夠在極低電子照明水平下拍攝。該柱還具有可調節的工作電壓，允許操作員在不改變SEM物理參數的情況下調整操作參數。顯微鏡具有先進的後處理管道，使用戶能夠分析和編輯其圖像的結果，提高準確性，甚至允許進行3維圖像和測量。此外,SEM還具有自動交互功能以加快數據采集任務,以及改進的用戶友好界面。JEOL JWS 7555針對一系列應用進行了優化，包括常規故障和缺陷分析、電子、醫療設備工程以及各種納米結構。它的高分辨率能力和可調電子束參數允許進行廣泛的測量，包括表面和質量分析、元素映射、高分辨率成像和信號/噪聲表征。因此,JWS 7555是詳細故障分析、缺陷隔離和物理表征的理想工具。JEOL JWS 7555是任何需要先進可靠SEM的實驗室或生產環境的完美補充。直觀的用戶界面和通用的應用程序使其成為快速準確分析任何曲面或結構的完美工具,並根據需要提供準確的結果。因此,可以快速、輕松地進行高效、準確的分析。