二手 JEOL JWS 7555S #293628489 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 7555S
ID: 293628489
Scanning Electron Microscope (SEM) Wth NCB Anser NF 200.
JEOL JWS 7555S是一種多功能、高性能的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於一系列分析應用。這種先進的模型是為優化成像、元素微分析和光束光刻能力而設計的。JEOL JWS-7555S提供了基於機器人技術的導航和導航控制光學設備,為成像質量和用戶體驗提供了顯著的改進。JWS 7555 S配備自動化的舞臺和電動柱,可實現自動測量,如焦點調整和舞臺移動。JWS 7555S強大的性能和先進的功能使用戶能夠自由地以最高的精度執行各種任務,包括粒子分析、線路掃描、化學分析、成像、結構研究等。JEOL JWS 7555 S能夠進行反向散射電子成像、EDS元素分析以及其他各種相關分析。JWS-7555S具有高分辨率成像功能,可提供8 nm級超高分辨率成像,並具有特殊的雙側檢測器視點。它的集成單色儀還可以在輕質和重質元素中實現更高分辨率的成像。JEOL JWS 7555S還提供了一個寬視野(FOV),它允許用戶在樣本中觀察更廣泛的細節。此外,顯微鏡還可以實現更大的景深(DOF),以實現更高分辨率的3D成像,以及更好的對比度,以實現更精確的圖像分析。JEOL JWS-7555S附帶高級軟件,提供自動分析,以秒為單位計算峰值輪廓。它還提供一系列自動化功能,如自動化SEM成像、數據收集和自動化分析。JWS 7555 S還具有創新的低真空室(LV),允許用戶在從低真空到高真空的各種條件下觀察和分析樣品。JWS 7555S還為各種應用提供了一系列探測器,如二次電子(SE)、反向散射電子(BSE)、X射線、紫外線光電子(UVP)、X射線光譜、EELS和電子反向散射衍射系統(EBSD)。總體而言,JEOL JWS 7555 S是一款先進的高性能掃描電子顯微鏡,為用戶提供一系列功能、強大的功能和卓越的用戶體驗。對於需要提供高分辨率成像、精密分析功能和一系列自動化功能的高級儀器的科學家和工程師來說,此SEM是理想的選擇。
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