二手 JEOL JWS 7555S #293761147 待售
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ID: 293761147
晶圓大小: 8"
優質的: 2000
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 8"
2000 vintage.
JEOL JWS 7555S是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合在材料科學、生命科學和半導體研究領域進行樣品監控、缺陷檢測和教育。該工具提供高分辨率成像，在二次電子中分辨率為0.2納米，以及寬視場直徑可達13mm。SEM除了具有典型的掃描和成像能力外，還作為強大的鏡頭內二次電子探測器發揮作用。其主要特點包括一個全面的樣品制備室。JEOL JWS-7555S提出了大量的樣品制備方法，如用氙氣濺射、用碳塗層、熱處理和真空水平的操縱。這些特性使得各種樣品的制備成為可能。此外，它的分析設備提供了比傳統光學顯微鏡更多的細節。分析系統包括能量色散光譜、陰極發光和永久性分析。JWS 7555 S也有自動化的舞臺單元。這允許樣本在其3軸閉環運動中進行非接觸運動。舞臺還配備了自動對焦功能，可以精細調整對焦，無需任何人工幹預。自動平坦度檢測機可最大程度地減少成像過程中圖像的光學失真。該工具的穩定性非常出色。JEOL JWS 7555 S提供了一個無振動的聲音幽靈控制，以盡量減少環境對數據的影響。這有助於最小化電子束位置的位移。此外，該工具還包括減少樣品與電子束碰撞可能性的避免碰撞特征。總之，JWS 7555S是一種高性能掃描電子顯微鏡，提供卓越的分辨率和能力。其廣泛的樣品制備室和自動化的舞臺資產提供了前所未有的細節和準確性，使其成為高層次研究的理想選擇。
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