二手 JEOL JWS 8000Z #293621075 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 8000Z
ID: 293621075
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JWS 8000Z是一種高精度掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於材料表面和地下結構的可靠、高性能成像和分析。它是一種雙光束SEM/聚焦離子束(FIB)儀器,允許同時成像和納米結構制造。該8000Z擁有超高分辨率冷場發射(CFEM)槍,可提供最大加速電位1.6千伏的高質量鎢梁和近束電流噪聲,實現優越的分辨率、景深、低充電操作。該8000Z配備了高對比度的反向散射檢測器和鏡頭內二次電子檢測器和傳統的反向散射檢測器,以超高靈敏度提供精確的組成和結構信息。它還有一個可變壓力(VP)腔室來分析需要低加速電壓的不敏感材料。該8000Z還具有樣品自動化功能,能夠使用多級電機控制級自動進行樣品準備、成像和分析。該8000Z還擁有一個板載Everhart-Thornley分段探測器,允許用戶以卓越的分辨率進行能量色散X射線(EDX)分析。自動WDS元素映射功能還允許對樣品組成進行微觀分析測量。該8000Z具有用戶友好的圖形用戶界面,帶有觸摸屏監視器和高級軟件,可實現強大、方便的操作和基於GIS的遠程控制。所有設置都存儲在內存中,以便在相同條件下啟用可重復的結果和分析。總體而言,JEOL JWS-8000Z是一種先進的高分辨率靜電掃描電子顯微鏡(SEM),具有超高分辨率的冷場發射槍、多功能探測器、樣品自動化特性,以及車載Everhart-Thornley分段探測器。它提供卓越的成像質量和精確分析能力,為各行業的成像和分析應用提供可靠的性能。
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