二手 JEOL JWS 8000Z #293799852 待售

製造商
JEOL
模型
JWS 8000Z
ID: 293799852
Wafer inspection system.
JEOL JWS 8000Z是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於研究具有超高分辨率和對比度的樣品。SEM由於設計先進,視野廣闊,冷卻效率高。所生產的掃描電子顯微鏡質量優良。該儀器配備了一個自動化階段,能夠快速準確地選擇用於成像的樣本區域。這為樣品的勘探和分析提供了最大的便利和精確度。JEOL JWS-8000Z設有復合柱主室,能夠控制電子束發射的高張力和角度。它還有一個超精確步進電機,用於X-Y掃描和放大設備。這種先進技術的結合確保了所產生的高質量圖像具有很高的分辨率和對比度。此外,內置光束減速技術可以提高成像細節和對比度,同時最大限度地減少樣品損傷.顯微鏡還配備了高效、低噪聲的渦輪分子泵送系統。這一單元提供了足夠的真空在中低放大率成像。JWS 8000Z還配備了多功能的能量濾波器.該工具使用戶能夠通過濾除有害的電子或原子來捕獲尖銳的能量分散光譜(EDE)和能量過濾圖像(EFI)數據。顯微鏡有一個嵌入式EDS資產-一個強大的二次電子探測器,幫助檢測微量元素與20 eV的辨別。最後,SEM包括功能齊全的自動圖像記錄模型。該設備以數字成像為基礎,以樣品的高質量數字圖像進一步加快成像進程。先進的軟件能夠同時記錄圖像和X射線映射。總體而言,JWS-8000Z是一個強大的成像工具,可用於各種材料研究和過程,並具有超高分辨率、對比度和清晰度,從而為分析提供卓越的信息。它可靠易用,是常規和研究應用的理想選擇。
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