二手 JEOL JWS 8755S #9035885 待售

JEOL JWS 8755S掃描電子顯微鏡（SEM）是一種流行的SEM模型，用於許多科學和技術領域，包括材料科學、環境研究和醫學成像。JWS 8755S提供強大的分析能力和卓越的放大能力。該系統具有2.5 nm的超高分辨率、大視野、出色的反向散射電子成像能力。放大倍率範圍較寬，放大倍率範圍為5到175kX，放大倍率範圍為1kX到100萬倍。它還可以達到極高的亮度水平和對比度水平，允許對小結構細節進行詳細成像。JEOL JWS 8755S還提供高速數字視頻功能的高級功能。JWS 8755S具有可變壓力樣品室，允許在一系列壓力環境中對樣品進行分析。這種特性也使得該系統非常適合在真空中檢查樣品，例如在具有抗性塗層的電子顯微鏡中。此外，大型拖曳級采樣級的配置使得能夠使用多個探測器進行廣泛的采樣分析。JEOL JWS 8755S提供先進的光學和數字功能，如高對比度反對比度檢測器、雙能量濾波器和電子束消隱。它還具有先進的軟件和自動化的數據收集功能，具有攝像頭成像功能，大的內部存儲容量，以及用戶友好的計算機界面。JWS 8755S具有強大的自動化分析軟件包,可用於樣品的自動圖像分析,為各種應用程序提供卓越的成像質量。此外，該模型還提供信息源跟蹤和減速電壓直接控制。自動化分析包允許對樣品進行簡單的分析，以及更復雜的應用，如自動化化學分析。總體而言,JEOL JWS 8755S提供了多種高級功能和功能,使其成為各種掃描電子顯微鏡應用的理想選擇。通用的設計和系統軟件使此模型成為醫學成像、環境研究、材料科學或任何其他需要高分辨率成像和分析的SEM應用的絕佳選擇。