二手 JEOL JXA 840 #9173746 待售
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ID: 9173746
Scanning electron microscope (SEM), parts system
Specification:
Resolution: 4 nm with a tungsten filament 3 nm with lab6
Cathode (SM-LBG40 option included)
Magnification: 10x to 300x
Gun type: Tungsten & lab6
Voltage: 0.2-40 kV
Secondary electron detector
Back scattered electron detector
Mechanical vacuum
Pump and dual diffusion pumps for chamber
Ion pump on gun chamber for lab6 filament
Specimen exchange: Airlock type (up to 32 mm dia.)
Stage type: (5) Axes
Eucentric goniometer stage
Manual controls
Specimen movement range:
X Axis: 0-10 mm
Y Axis: 0-25 mm
Z Axis: 8-39 mm
Working distance: 3-53 mm
Tilt: 0° to 90°
Rotation: 360°
Computer missing.
JEOL JXA 840是一種掃描電子顯微鏡（SEM），是高分辨率可視化材料的重要工具。該儀器能夠觀測結構和特征，分辨率可降至幾納米。這允許對金屬、陶瓷、半導體和生物標本等多種材料進行詳細研究。JXA 840利用電子束掃描樣品,創建詳細的圖像。該儀器采用全自動、高精度的x-y掃描驅動器,可實現高速掃描,非常適合需要高吞吐量的應用。該儀器提供從0.05到30kV的可變加速電壓，可以對各種樣品類型進行成像和元素分析。除了常規成像外，儀器還提供從低千伏成像到低溫條件的一系列專門成像能力。該儀器包括一個集成光學顯微鏡，允許對樣品進行視覺和電子觀察。此功能對於檢查需要更大放大範圍的樣品特別有用。JEOL JXA 840包括一個能量色散光譜（EDS）選項，可用於分析樣品組成。該儀器還配備了一個屏蔽良好、低振動、高靈敏度的EDS探測器，可防止電磁幹擾，從而獲得準確可靠的元素分析結果。儀器具有溫度範圍從10C到600C的大樣本室，適合熱分析等廣泛的溫度依賴性應用。此外，該儀器還配備了一種具有多種沈積金屬的樣品金屬化器，可用於復制和保存各種樣品表面的地形。總體而言,JXA 840是一款用途非常廣泛的SEM,具有高精度和高分辨率,適合廣泛的研究應用。它具有集成的成像和分析功能,是在納米級表征、分析和成像材料的寶貴工具。
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