二手 JEOL JXA 8600 #293619820 待售

製造商
JEOL
模型
JXA 8600
ID: 293619820
Electron beam microprobe.
JEOL JXA 8600是一種場發射掃描電子顯微鏡(FESEM),具有優異的成像和分析能力。它擁有超精確、消色差的靜電柱,在所有模式下都提供高分辨率成像,包括無昏迷電子光學和偏振光操作。這使得它成為一系列材料分析的理想選擇。顯微鏡配有一個大的雙軸端口和樣品室,便於操作和支持不同的樣品類型。這包括平臺中的材料和其他示例加載選項。透鏡室設有多個階段板,可進行多個樣本分析。該工作站可包括四個能量色散X射線分析儀,用於元素映射和分析。JXA 8600能夠創建令人驚嘆的圖像細節和分辨率。該系統配備了超低背景電子束、高能低壓探測器和新型低電壓成像系統。這允許捕獲有機材料和其他非金屬或半導體的高分辨率圖像。此外,可變壓力SEM允許觀察空氣或流體中的亞微米細節。該系統還配備了一系列粒子分析工具,包括半定量和定性分析、粒徑分析、全反射X射線熒光分析、X射線衍射和電子反向散射衍射。高效的電子束光學元件和高效的元素合金檢測提供了一個高速的數據采集速率(每個元素高達5秒)。它還有一個高分辨率變焦鏡頭,允許對標本表面進行詳細的映射和圖樣分析。憑借緊湊的設計和相對較低的功耗,JEOL JXA 8600可以輕松集成到廣泛的實驗室設置中。這使得它成為尋求探索一系列材料和了解其結構特性的研究機構和大學的一個有吸引力的選擇。
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