二手 KLA / TENCOR 8100 #293652756 待售

KLA / TENCOR 8100
製造商
KLA / TENCOR
模型
8100
ID: 293652756
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100是一種基於桌面的掃描電子顯微鏡(SEM),專為檢查大面積半導體晶片而設計。KLA 8100先進的電子光學和成像光學使其能夠以高分辨率快速準確地捕獲和分析圖像,使其成為分析先進半導體生產中設備缺陷和工藝變化的理想選擇。TENCOR 8100提供了一套令人印象深刻的功能,如高性能能量濾波器成像、相位對比度和光譜成像。其能量濾波成像允許半導體器件的高對比度成像,並能消除光學幹擾。相位對比度成像功能增強了表面積對比度,使復雜曲面上的小特征具有更好的可視化效果。最後,8100的光譜成像使樣品的元素和化學映射能夠進行高級分析。KLA/TENCOR 8100提供了出色的靈敏度和分辨率,可以對放大倍數高達6,000倍的樣品進行精確成像。KLA 8100的高分辨率探測器能夠捕捉尺寸小至1納米的物體的銳利圖像。此外,TENCOR 8100還配備了多種電子和成像選擇,包括二次電子、反向散射電子以及明暗場成像。8100與廣泛的樣品持有者兼容,包括4英寸和6英寸的晶片、封裝的設備、碰撞模具。除了KLA/TENCOR 8100的高級成像功能外,系統還設計了一個直觀的用戶界面,簡化了操作並縮短了培訓時間。大型全彩色液晶顯示屏可交互式控制掃描參數,並允許用戶快速預覽和調整圖像。KLA 8100還提供了多種後期處理功能,能夠有效地查看和分析圖像。總體而言,TENCOR 8100是研究大面積半導體晶圓的絕佳選擇。其強大的成像功能、直觀的用戶界面和通用的樣本持有者使其成為詳細缺陷分析和過程監控的理想工具。
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