二手 KLA / TENCOR 8100XP #293662978 待售

KLA / TENCOR 8100XP
ID: 293662978
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XP是由領先的光學計量和檢驗制造商KLA開發的掃描電子顯微鏡(SEM)。它在表面分析、成像和缺陷檢查方面提供了無與倫比的性能。KLA 8100XP具有先進的PrimEx光束系統,可在所有應用程序中提供極致的圖像質量。它呈現精確和高分辨率的3D圖像,具有無與倫比的細節深度和邊緣保真度。它能夠輕松地查看不同深度的缺陷區域,並根據應用程序靈活地獲取最佳圖像。TENCOR 8100 XP配備了8英寸大的晶圓視場,允許更快速的分析和更詳細的圖像。高分辨率圖像以前所未有的6.4 nm分辨率生成,非常適合識別晶體管、MEMS結構和薄膜等設備結構中的精細特征細節。結合高速數據采集功能,此SEM使您能夠實時、現場觀察快速變化的現象。此外,8100 XP擁有一套全面的分析能力。它配備了一個背面成像系統,它提供了完整的結構橫截面視圖,允許與設計規範進行直接比較。先進的微分析能力,通過廣泛的探測器選擇,提供了先進的能量色散光譜(EDS)和能量濾波成像(EFI)從樣品中提取重要的元素信息。此外,8100XP還配備了自動化的舞臺和直觀的工作流自動化軟件。這套方便用戶的軟件包在計量和缺陷檢查過程中提高了生產率和準確性。KLA/TENCOR 8100 XP是快速、準確、可重復的高分辨率表面分析和缺陷檢測的領先SEM。其用戶友好的平臺、全面的分析能力和先進的成像系統使其成為研究和工業應用的理想儀器。
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