二手 KLA / TENCOR 8100XP #9258655 待售

ID: 9258655
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XP是一種結合了先進的光學和掃描電子顯微鏡能力以及分析軟件應用的設備,以便對材料、設備和其他組件進行高分辨率成像和檢查。它是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),能夠對尺寸小至10納米的器件進行無損和無接觸的檢查。它提供了高達200kX的無與倫比的放大倍率,以及超高分辨率的大面積圖像。KLA 8100XP由一個稱為半導體成像顯微鏡(SIM)的主要單元組成。這個單元包括一個先進的用於成像的電子槍發射器,以及一個3-D檢測器從多種電子類型中拾取信號。它還包括一個用於操作和測量設備的特殊階段,以及一個數字圖像處理系統。此單元的設計允許快速、準確地分析極小的特征,同時仍提供高分辨率圖像。TENCOR 8100 XP使用透射電子顯微鏡(TEM)模式,設計用於以納米分辨率檢查表面。這允許用戶更好地檢測被檢驗樣品的晶體取向、摻雜濃度和其他物理特性等特性。此外,8100 XP的3D成像機允許評估地形特征,如缺陷、晶粒大小和深度。此外,SEM還利用自動圖像縫合技術,通過將多個圖像組合到一個圖像中,可以創建更大的圖像。這使得精確評估大型樣品的表面特性變得容易得多,因為將其成像為單個圖像需要很長時間才能實用。TENCOR 8100XP還包括可選的附加軟件應用程序,以提供自動計量功能,如特征識別、粒子計數和大小分析、線寬測量以及其他輪廓測量。這些應用程序旨在為用戶節省時間和精力,因為它們可以快速分析更復雜組件的曲面。總體而言,KLA/TENCOR 8100 XP是為分析納米材料和其他小型設備而設計的強大儀器。它提供高分辨率成像功能,可以檢查和分析最小的特征。此外,它的可選軟件應用程序還能夠更快地自動分析曲面。
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