二手 KLA / TENCOR 8100XP #9286582 待售

KLA/TENCOR 8100XP掃描電子顯微鏡（SEM）是最新的最新型號，提供高分辨率的成像和精確的分析能力。這種掃描電子顯微鏡非常適合廣泛的應用，從半導體故障分析和樣品檢查到使用X射線EDS的無損檢測。KLA 8100XP是一種自動化半導體缺陷檢測設備。該系統能夠以高達0.5微米的分辨率捕獲樣品的高分辨率圖像。它同時使用二次電子和瞬時X-Y掃描。此外，它還可以通過集成的能量色散光譜儀收集組成和地形數據。該單元的特點是改進了低kV應用的光學器件，為廣泛的領域和應用提供了卓越的圖像質量。在材料分析方面，TENCOR 8100 XP結合了反向散射電子和二次電子的組合，給出了元素組成的精確表示。KLA/TENCOR 8100 XP旨在提高質量控制過程的生產率,提供有關缺陷位置、組成、大小、形狀和幾何的信息。它提供了易於操作的界面,可快速捕獲和分析缺陷,以確保產品研究和制造過程達到最高質量水平。TENCOR 8100XP易於操作。它配備了多種自動化功能,可快速收集數據並提供有意義的分析,而無需費時的手動調整。此外,還可以使用高級圖像分析軟件比較多個樣本中的數據,以跟蹤單個缺陷的演變和增長。對於基礎材料分析，KLA 8100 XP可以產生元素線掃描和點分析。這臺機器還可以通過自動漂移校正和自動化階段進行更高級別的應用。8100XP與先進的過濾能力結合在一起，使其能夠對暴露於輻射中特別敏感的樣品具有高水平的掃描穩定性。集成真空工具的設計目的是提供一個清潔的環境，提供卓越的成像質量，不受樣品汙染或材料積聚在光學器件上。8100 XP與KLA系統的集成允許對組件和維修進行連續分析,從而可以長期優化生產效率。由於其先進的成像功能、改進的分辨率、自動化功能和用戶友好的界面,此資產非常適合半導體故障分析。