二手 KLA / TENCOR 8100XP #9410217 待售

ID: 9410217
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) APPLE MAC Computer.
KLA/TENCOR 8100XP是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於測量材料的表面形態、組成和電性能。它具有多種功能和有用的工具,使樣本分析更加可靠、高效和可重復。KLA 8100XP能夠在高真空條件下運行,非常適合表面分析、成像和測量電性能。SEM還配備了用於能量色散X射線光譜(EDS)的STEM檢測器,用於鑒定樣品中的元素成分。自動顯微鏡系統和倒置光學顯微鏡有助於最小化掃描時間並提高精度。TENCOR 8100 XP還擁有幾項先進的成像和位置反饋技術,包括高定義單點導航的光學導航、自動對焦使樣品聚焦與圖像對齊,以及對透明薄膜材料進行成像的能力。8100 XP還具有用於更換樣品的自動步進器和用於提高腔室穩定性的自動腔室壓力調節。顯微鏡分辨率高達1nm,能夠檢測具有亞微米精度的特征。8100XP系列還提供了一個名為ProQuant II的可選軟件包,它有助於測量表面地形、輪廓和電氣參數。KLA 8100 XP SEM專為廣泛的材料研究而設計,其先進的功能可以提供精確可靠的結果。憑借其卓越的成像能力,操作員可以比以往任何時候都更快速、更經濟地對各種材料的表面特征和特性進行可靠和準確的測量。
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