二手 KLA / TENCOR 8100XPR #293605761 待售

KLA/TENCOR 8100XPR是一種桌面掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和光譜應用。這種顯微鏡將電子束投射到樣品表面，使其發射二次電子、X射線和反向散射電子。然後檢測到這些發射的信號,並將其用於構建表面圖像。該SEM能夠產生分辨率高達1 nm的圖像，適合分析納米材料。KLA 8100XPR配備了高能一次電子槍，使用戶能夠使用廣泛的標本材料。這把槍產生的光束高達1500V，可以調整到4 nm的顯微鏡點分辨率。該槍還提供了異常短的曝光時間和遠光束電流。這允許用戶以低漂移和極高放大倍率捕獲圖像。TENCOR 8100XP-R還配備了一系列探測器，包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、X射線探測器和充電探測器。這些探測器使顯微鏡能夠分析導電、絕緣和半導電材料的樣品。X射線檢測器對於分析樣品的元素組成特別有用。KLA 8100XP-R還提供一系列自動成像功能,如自動汙名和散光校正、自動圖像捕獲和縫合,以及自動模式識別以檢測圖像中的特征。顯微鏡還包括一個集成的ChromaJet軟件包，可以用來分析和測量樣品表面的顏色。8100XP-R是一個功能強大、用途廣泛的SEM理想的材料分析和表征。它提供高分辨率成像、高顯微鏡點分辨率、自動化成像和特征檢測，以及一系列用於分析樣品元素組成的探測器。對於需要臺式機SEM分析納米材料的研究人員來說，這種功能的組合使得8100XPR成為一個極好的選擇。