二手 KLA / TENCOR ECD-2 #9269028 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 9269028
優質的: 2005
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
2005 vintage.
KLA/TENCOR ECD-2是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM),為半導體制造商和研究實驗室提供行業領先的性能。它旨在提供高分辨率的成像,具有出色的吞吐量和低噪聲。KLA ECD2采用球形柱設計,在廣泛的溫度範圍內極其穩定和精確。這使得SEM非常適合超高分辨率成像。先進的二次電子成像和X射線光譜系統使用戶能夠高精度地可視化和分析特征。此外,自動化階段使用戶能夠在圖像區域之間快速移動。TENCOR ECD2結合了先進的碰撞誘導解離能力,以提高低原子數材料的精度和分辨率。這使得可以分析砷化氙(GaAs)和其他分辨率更高的半導體化合物。這對於先進的半導體制造工藝至關重要。KLA/TENCOR ECD 2具有自動側壁檢查功能,能夠檢測小到1納米的線寬。這使得SEM成為分析當前半導體技術的重要工具。此外,微觀規模的材料分析功能有助於加快對工藝技術的成本效益評估。KLA ECD-2的電光結合能力使其成為可靠而強大的成像系統。數字信號處理系統提高了成像數據的分辨率。這使得TENCOR ECD-2能夠比以往更快地捕獲高分辨率圖像。KLA/TENCOR ECD2具有易於操作的用戶友好界面。真空系統的建立是為了為SEM的正確運行提供所需的環境。此外,KLA ECD 2還配備了氣泵和濕度控制系統,以確保最佳圖像質量。總之,ECD2是為半導體制造商和研究實驗室提供行業領先性能的高分辨率SEM。其先進的二次電子成像和X射線光譜系統使用戶能夠準確分析特征,而其自動側壁檢查功能則允許分析當前的半導體技術。此外,其用戶友好的界面和內置的溫度、真空和濕度控制系統使其成為理想的成像工具。
還沒有評論