二手 KLA / TENCOR EV200 #9223844 待售

KLA / TENCOR EV200
ID: 9223844
Defect review SEM.
KLA/TENCOR EV200是一種掃描電子顯微鏡,用於材料分析研究。它被設計為提供高度詳細、立體的標本圖像,其特征使用戶能夠從標本中獲得多種數據。KLA EV200的先進技術可以在各種初級和次級顯微鏡放大倍數達到120,000倍的情況下進行精確操作。這可以讓使用者以極高的清晰度觀察極小的特徵,例如個別原子。此外,顯微鏡配備了一個場發射槍(FEG),在成像過程中提供高水平的穩定性和均勻性。這個FEG產生一束可以聚焦在樣品上的電子束,然後掃描並形成圖像。此外,TENCOR EV200具有一個大腔室,允許樣本具有多種幾何形狀。這包括掃描低對比度和大面積的標本,如塗層、薄膜和有機材料。此外,該腔室設計用於在低機械振動和濕度的環境中保存樣品,同時能夠在可變壓力下進行分析。EV200還有一個集成的圖像分析軟件套件,使用戶能夠使用自動化工具高速分析樣本。這包括自動特征檢測、多層分類和3D建模功能等功能。此外,此軟件還可以通過進行較小的修改對圖像進行精確分析。此外,KLA/TENCOR EV200有多個集成探測器,使用戶能夠從幾個不同角度捕獲數據。第一個是二次電子檢測器(Secondary Electron Detector,SE),它產生一個可以用來評估表面拓撲和微結構的高分辨率圖像。此外,信號電子檢測器(Signal Electron Detector,BSE)是由電子反向散射決定的,提供有價值的組成、厚度、紋理和紋理數據。最後但並非最不重要的是,快速電子檢測器(FE-SEM)被用來捕獲來自高速和分辨率物體的電子信號。總之,KLA EV200是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在提供一個快速、高效、詳細的微觀樣品圖像。其強大的功能和集成的探測器使研究人員能夠獲得高度精確的數據,而集成的圖像分析軟件套件則能夠快速分析樣本。
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