二手 LEO 430 #185415 待售

LEO 430掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於深入分析各種有機和無機材料微觀結構的強大設備。它產生的高分辨率圖像的放大倍率範圍高達10,000倍,工作距離在0.5-10mm之間。430 SEM配備了everhart-thornley型探測器，提供了快速可靠的結果。它能夠檢測樣本的地形、組成、視覺形態和樣本大小。LEO 430 SEM的工作原理是二次電子圖像檢測。這一原理是基於對快速電子束穿過樣品表面的薄而聚焦的光束進行掃描，進而導致二次電子從樣品表面發射出來。然後用everhart-thornley型探測器檢測這些二次電子，該探測器將產生非常詳細的表面圖像。430產生的圖像分辨率明顯高於其他顯微鏡手段獲得的圖像分辨率。LEO 430還配備了高真空系統，這是在非常高的放大倍率下操作所必需的。這個系統能夠達到2 x 10e-7 Torr的壓力。這樣可以確保光束以最小的失真穿透樣品表面,從而產生高分辨率圖像。此外，真空系統還提供了一定程度的灰塵和顆粒保護，同時將所需的維護保持在最低限度。430裝有真空塗層的單傾斜式樣品支架，可提供樣品的廣角視圖，以便觀察樣品表面的不同方面。由於SEM能夠在最大60度的範圍內傾斜樣品支架,因此進一步增強了這一功能。樣品支架還配備了X和Y樣品翻譯階段，提供精確的定位能力，以詳細捕捉樣品表面上的各種特征。LEO 430為分析有機和無機材料的表面微觀結構提供了強大而靈活的工具。其集成的組件和特性使其成為市場上研究微觀結構和地形特征的最通用的SEM之一。