二手 LEO 435VP #185414 待售

製造商
LEO
模型
435VP
ID: 185414
Scanning electron microscope, (SEM) Resolution: 4 nm 5 axis computer controlled stage is mounted in a specimen chamber measuring 300 x 265 x 190 mm.
LEO 435VP是蔡司生產的高端掃描電子顯微鏡(SEM)。它能夠放大到500,000倍,並有一個內置的能量色散光譜(EDS)系統用於元素分析。這有助於提供有關標本物理結構的更多信息。LEO 435 VP有dynaFEG源,是電子槍技術的最新進步。這提高了電子束的亮度和穩定性,從而允許更高分辨率的圖像和光譜數據。它能夠獲取分辨率小於10 nm的二次電子圖像或反向散射電子圖像。這個SEM也有一個高強度的X射線發生器。它能夠檢測最低成分為0.2%的標準分析元素。包括EDS系統和X射線發生器使其成為分析地質和生物樣本的理想工具。為了提高操作員的可用性,435VP擁有一個簡化的用戶界面和一套全面的功能。它具有多種改變圖像分辨率和粒子通量的設置。這使得微調所分析樣品的SEM變得更加容易。再者,435 VP也具有先進的自動化能力。這使得同一個程序可以用最小的運算符輸入重復多次。它還有一個集成的分析系統,可以自動檢測和識別樣品內的粒子。總體而言,LEO 435VP是掃描電子顯微鏡的絕佳選擇。其先進的電子槍和X射線發生器產生詳細的圖像和光譜數據。它還具有多個自動化設置和直觀的用戶界面。這有助於減少操作員時間,提高實驗精度。
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