二手 LEO 435VP #9079999 待售

LEO 435VP掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能成像設備,它結合了最大的靈活性和卓越的光學性能以及廣泛的應用能力。LEO 435 VP的緊湊設計為許多不同的應用提供了性能和經濟性的理想平衡。435VP具有高分辨率波前校正的多罐光學系統,即使在低KV和擴展的景深設置下也能實現高級成像。光學裝置還配備了一個電動炮塔，允許可變的柱頭，一個可變的。此外,此模型允許更長的工作距離,並具有允許快速對齊的無對齊過程。顯微鏡還采用了帶有冷場發射槍的數字成像裝置。這臺機器允許連續的自上而下的成像和自動切換，以及先進的圖像縫合和圖像跟蹤。435 VP利用低壓掃描電子成像,這是一項先進的技術,允許在每次掃描過程中進行動態采樣。此功能允許在低放大倍率下實現更高分辨率的成像,從而獲得更精確、原子正確的圖像。掃描電子探測器也安裝在可對齊的CAE上，允許增加各種樣品取向的靈活性。此功能還允許圖像縫合,從而提高圖像質量。除了先進的成像能力外，LEO 435VP還具有多種環境控制功能。這包括一個可調節的空氣凈化工具與集成的灰塵過濾，一個隔振資產，和可調節的溫度、壓力和濕度設置。此環境設置陣列允許用戶在各種不同的操作條件下最大化成像性能。總體而言,LEO 435 VP掃描電子顯微鏡是一種卓越的成像模型,可提供高性能、最大的靈活性和強大的環境控制。它非常適合各種科學應用，從材料科學到納米技術。435VP具有出色的光學性能、環境可調節和繁重的采樣能力,是尋求專用SEM設備的人們的理想選擇。