二手 LEO / ZEISS 1430VP #9259807 待售
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ID: 9259807
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM)
Source type: Tungsten
Variable pressure
Turbo pump
Operating system: Windows XP
Does not include EDX
Detectors:
SE
Everhart-thornley secondary electron detector
Retractable 4Q BSE detector from KE
Power supply: 30 kV.
LEO/ZEISS 1430VP是一種掃描電子顯微鏡（SEM），專門設計用於對小的三維樣品進行成像和分析。它在成像和分析測量方面都具有極高的分辨率。適用於低真空和高真空成像室中有機和無機材料的詳細分析。LEO 1430VP的電子槍使用場發射槍，產生高能量分辨率的電子束。該槍還產生近光束散光，使其非常適合成像和小面積實驗。該槍可以在低壓模式下進行成像和觀測，也可以在高壓模式下進行分析，如能量色散X射線光譜（EDX）、波長色散X射線光譜（WDS）。蔡司1430VP還配備了原位/溫度級的碳絲，可以觀察和分析高溫下的材料性能。1430VP提供多種成像模式，包括二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BSE）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）。反向散射的電子圖像以傾斜角度或名義上垂直於樣品平面收集。利用階梯傾斜功能可以進一步優化SEI成像.使用高速采樣階段對樣本進行光柵掃描,而實時成像使用戶能夠跟蹤樣本屬性的變化。LEO/ZEISS 1430VP還配備了一系列用於元素分析的探測器，包括EDX、WDS和能量過濾透射電子顯微鏡（EFTEM）。EDX用於檢測樣品中的元素,其靈敏度從跟蹤級別到多個質量%。WDS用於檢測靈敏度為幾ppm的光元素。EFTEM非常適合觀察樣品中存在的非常精細的結構或組成細節。通過使用一系列軟件包可以擴展LEO 1430VP的分析能力。其中包括蔡司1430VP可視化工具、1430VP數據分析軟件、LEO/ZEISS 1430VP圖像分析和3D重建軟件。所有這些軟件包都是為優化SEM映像的數據收集、處理和分析而設計的。總體而言，LEO 1430VP是一種先進的高性能掃描電子顯微鏡，非常適合對三維樣品進行成像和分析。其先進的光學、成像模式和分析檢測器提供出色的分辨率，而其自動化軟件包則優化了數據收集和處理以獲得優異的效果。
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