二手 LEO / ZEISS 1440VP #9255473 待售

LEO/ZEISS 1440VP掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於原子級成像的尖端顯微鏡工具。其先進的能力通過低壓電子束實現高分辨率成像。這使得它非常適合需要極高分辨率成像的敏感應用，例如微電子元件的故障分析。LEO 1440VP SEM有1kV和5kV兩種,可實現2nm的最大分辨率圖像。它還具有鏡頭內探測器設計，能夠以低噪聲進行高速成像。這種設計還提供了一個非常寬廣的視野,能夠以最小的失真對大型樣品進行成像。此外，顯微鏡還配備了一個透射計，用於將電子束自動對準樣品或反向散射探測器。ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscope的其他功能還包括高速成像模式，允許用戶以加速的方式查看和分析圖像。此功能還可以捕獲曝光時間非常短的多個圖像,同時保持很高的分辨率。顯微鏡還支持廣泛的探測器，使其能夠捕獲各種成像模式，如能量過濾成像和元素分布映射。1440VP掃描電子顯微鏡是一種強大的成像工具，能夠產生高分辨率的圖像具有超強的靈敏度。其廣泛的特點使其適合於各種應用，如失效分析、元素分布映射以及細膩材料和元件的微觀結構分析。這種先進而穩健的SEM使得分析復雜的微結構成為可能，是從事電子、材料科學、納米技術等領域工作的科學家和工程師的絕佳選擇。