二手 LEO / ZEISS 1450 #9161452 待售
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ID: 9161452
Scanning electron microscope (SEM)
Electron source: Tungsten
Resolution:
2.5nm at 30kV (LaB6)
3.5nm @30kV (W)
5.5nm @30kV (BSD-VP mode)
Includes:
EDS
EBSD
Magnification range: 9x to 900000x
Probe current
1pA to 1uA Optibeam controlled
Accelerating voltage: 200 V to 30kV
Variable pressure: 1Pa to 400Pa
Detectors: Everhart thornley with VPSE / VPSE or BSD
Chamber: 300 mm x 270 mm x 224 mm (H)
5-Axis motorized stage:
X-Travel: 100 mm
Y-Travel: 125 mm
Z-Travel: 60 mm (35 mm motorized)
Rotation: 360° continuous
Tilt: 0° to 90°
Image processor resolution: Up to 3072 x 2304
Image processing:
Pixel averaging
Continuous averaging
Frame integration
Oil diffusion pump main vacuum
Roughing pump
~1999 vintage.
LEO/ZEISS 1450掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率成像工具，利用電子創建各種尺寸和材料樣品的詳細圖像。LEO 1450 SEM通過產生聚焦電子束來運行，該電子束使用偏轉系統在樣品上掃描。通過控制光束的入射角，可以生成樣品的三維圖像。由於電子是特定於每個元素的，因此可以創建元素映射來顯示樣品中每個元素的濃度。ZEISS 1450 SEM配備了兩個電子源，分別以高達10kV和30kV的能量運行。這樣就可以對包括絕緣體和導電材料在內的各種材料進行成像。機器產生的圖像分辨率也很高，達到高達0.5nm的橫向分辨率和高達0.25nm的軸向分辨率。此外，1450 SEM配備了各種探測器，使其能夠接收來自樣品的信號。其中包括用於測量束電流的法拉第杯、用於檢測樣品低能X射線的閃爍計數器、用於繪制樣品元素成分的能量色散光譜（EDS）檢測器以及用於對樣品表面地形進行成像的反向散射電子（BSE）檢測器。LEO/ZEISS 1450 SEM還能夠進行定量分析,包括測量晶粒尺寸、體積、孔隙度、薄膜厚度、表面積和表面紋理等參數。它還能夠進行光譜分析，使得測量組成、光學常數、阻抗、介電常數和磁性等多種性質成為可能。總之，LEO 1450 SEM是一種強大的工具，用於分析和成像各種材料和尺寸的樣品。它提供高分辨率圖像、定量分析和光譜分析，使其成為研究和工業應用的寶貴工具。
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