二手 LEO / ZEISS 1450VP #293755515 待售
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ID: 293755515
Scanning Electron Microscope (SEM)
E-Beam lithography
Resolution: 3.5 μm
Magnification: 15x- 300,000x
Electrostatic beam blanker
Stage max movements X,Y,Z and R,T: 100, 125, 35 and 360, 90
Electron gun: LaB6
Turbo / Ion pump
SE Detector
Pattern generator: ELPHY quantum
Probe current: 10-12, 10-7 A
Acceleration voltage: 200 V, 30 kV.
LEO/ZEISS 1450VP是一種可能分辨率最高的掃描電子顯微鏡(SEM),用於從多種材料生成極為詳細的表面圖像。它采用了強大的SEM功能的獨特組合,以提供廣泛的分析能力來探索標本表面區域。其特點包括創新的高分辨率成像系統,提供卓越的圖像質量和能夠精確成像樣品組件。其場發射源產生極低的電子散射,使用戶可以最大化標本對比度。具有測距孔徑的高分辨率成像仍然可用,即使是脆弱的標本也是如此。LEO 1450VP還提供許多高級操作功能,包括自動X-Y對齊、圖像縫合、掃描階段移動和軟件放大控制。這允許用戶從同一樣本中捕獲包含許多重叠圖像的數據集,從而提供樣本的完整圖片。蔡司1450VP還納入了一系列分析硬件和軟件。這包括用於化學分析的能量色散X射線光譜(EDS)和電子光譜(ESCA)。X射線EDS可以在納米尺度上測量試樣的組成,而ESCA分析則用來取得高解析度的表面化學資訊,精確度低至原子水平。1450VP提供有價值數據的潛力得到0.7nm的最大分辨率、高達30kV的加速電壓和0.2-4nm的電子束聚焦的支持。該機還利用半焦點式燈絲、BSE探測器、冷卻器、自動中心功能和自動化操作的潛力。這使得能夠進行全面的樣品檢查和分析,從一般的微觀材料表征到成像和描述非常大和復雜的樣品。還提供了廣泛的分析技術,如二次電子成像、X射線映射、相位對比成像、數字圖像處理、靜態和動態圖像增強以及多軸分析。總體而言,LEO/ZEISS 1450VP為科學和工程領域的廣泛應用提供了檢查材料、表面和元件的絕佳手段。其精密的特點,結合高精度和分辨率,使該SEM成為許多標本研究的傑出選擇。
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