二手 LEO / ZEISS 1450VPSE #293818689 待售

ID: 293818689
優質的: 2002
Scanning Electron Microscope Electron Source: Tungsten hairpin filament Resolution: 3.5 nm at 30 kV (high vacuum), 5.5 nm at 30 kV (BSD-VP mode) Variable Pressure: 1 Pa to 400 Pa Accelerating Voltage: 0.2 kV to 30 kV Magnification: 9x to 900,000x Probe Current: 1 pA to Optibeam controlled Everhart Thornley SE detector Variable Pressure Secondary Electron (VPSE) detector Stage: 5-axis motorized (X=100mm, Y=125mm, Z=60mm, Tilt 0-90°, Rotation 360°) EDAX P7715 Energy‑Dispersive X‑ray Spectroscopy (EDS) System Turbo pump.
LE0LEO/ZEISS 1450VPSE是一種先進的掃描電子顯微鏡,設計用於對小型和大型樣品進行全面分析。它是一種多用途顯微鏡,適用於科學、研究和工業領域的廣泛應用。LEO 1450VPSE利用可變壓力掃描電子顯微鏡(VPSE)系統,以非常高的分辨率和放大倍率獲得圖像和測量結果。它將高分辨率電子柱與自動傾斜移位精密運動系統相結合,以優化樣品表面環境。可調壓力允許顯微鏡在最苛刻的應用中使用。蔡司1450VPSE的高分辨率允許對微觀和納米結構進行成像。晶體、無定形和金屬材料,即使是復雜的形狀,也可以通過反向對比度極性以高清晰度成像。此外,顯微鏡還提供顆粒和纖維的粒子分析,以及三維成像的斷層掃描。1450VPSE配備了廣泛的探測器,用於產生各種適合特定應用的成像模式。EDS或EDAX檢測器能夠通過材料識別進行元素分析。能量色散X射線光譜儀(EDS)用於識別樣品中的各種元素。AES(俄歇電子光譜)和RBS(盧瑟福反向散射光譜)探測器可以用來測量薄膜的厚度和組成。反向散射電子探測器(BSED)允許對地形特征(如晶界)進行成像,而無需塗層。LEO/ZEISS 1450VPSE還包括一個全自動XY級,以便於樣品對齊和操作。還提供了一種用於顯微鏡通過網絡連接進行遠程操作的集成解決方案。此功能使用戶能夠遠程選擇和創建映像模式設置,甚至可以從多個站點獲取和控制圖像。LEO 1450VPSE旨在為最終用戶提供最大的工作效率和最小的停機時間。它配備了直觀的功能,用戶無需花時間學習軟件即可直接完成映像任務。LE0ZEISS 1450VPSE是一個功能強大和可靠的掃描電子顯微鏡,為用戶提供一個全面和靈活的工具進行研究。
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