二手 LEO / ZEISS 1455VP #293777704 待售

LEO/ZEISS 1455VP是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於常規和研究表面形態和粒子分析成像。它裝有一個everhart-thornley（ET）探測器，允許對非導電表面進行高分辨率成像，以及一個用於高速二次電子成像的通道電子探測器。這款SEM還擁有用於成像絕緣材料的鏡頭內低真空設備，以及用於更大景深的高達30千伏的額外高壓源。LEO 1455VP利用場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM），其產生的單位面積電流比其他SEM系統增加，允許卓越的成像分辨率。FE-SEM系統使用槍絲產生能量比熱電子槍高的電子，並能提供更小、更聚焦的探頭，以達到最佳的解析度。這臺顯微鏡配備了超高分辨率的埃弗哈特-索恩利（ET）探測器，允許樣品表面的最大分辨率和精確的粒徑被檢測出來。蔡司1455VP還配備了一個自動視覺訪問單元，提供精確的樣本掃描定位和舞臺控制。它包含一個自動化的圖像捕獲機，可以方便地存儲數據和可靠的圖像選擇。顯微鏡能夠產生靜止和可移動的數字圖像。1455VP適用於許多不同類型的成像，包括三維表面成像（3D FIB-SEM）、增益和對比度控制成像（ACE）以及X射線微分析數據（EDX）的生成。它還具有低真空工具，便於在非導電表面上成像，且散射最小。LEO/ZEISS 1455VP是工業、學術和醫學研究樣品分析所必需的科學成像設備。它可以提供粒子和表面特征的高度詳細的圖像，使研究人員能夠識別出常規顯微鏡可能隱藏的特征。高分辨率成像和方便的樣品制備使其成為需要高端SEM能力的研究人員的熱門選擇。