二手 LEO / ZEISS 1455VP #9089413 待售
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ID: 9089413
Scanning electron microscope (SEM)
Parts system
Missing parts:
Computer
MVTitan Digital frame grabber and software
Currently de-installed.
LEO/ZEISS 1455VP掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用途廣泛、功能強大的數字成像工具,專為各種研究和工業應用而設計。LEO 1455VP提供卓越的分辨率和分析能力，使研究人員能夠獲得更高質量的圖像，獲得可靠的測量，並以更高的準確性和可靠性獲得對亞微觀世界的洞察力。該SEM具有標準的雙透鏡、雙視圖操作,能夠在高真空和低真空模式下同時對試樣表面和地下區域進行成像。其15KV加速電壓使得高質量電子的傳輸能夠以光學顯微鏡無法實現的放大尺度對樣品表面進行高分辨率掃描。ZEISS 1455VP還有一個適合各種樣品的大樣本室，以及一個用於元素分析的集成EDS檢測器。最先進的多通道探測器可用於進一步提高所獲取圖像的分辨率。1455VP具有直觀的用戶界面和大型觸摸屏顯示屏,可更好地控制參數和圖像分析。此SEM具有用於自動樣品掃描和定位的3軸級,允許精確的樣品調整和運動。此外，LEO/ZEISS 1455VP具有專門的低壓成像模式，用於對非導電樣品進行成像而不產生充電效應。新的LEO 1455VP提供了針對各種應用程序設計的定制軟件,如納米級成像、缺陷分析、表面表征和計量、材料分析和故障分析。此SEM提供了廣泛的附加功能,包括可調節試樣角度的傾斜級、用於高對比度成像的薄膜插件,以及用於更大的樣品捕獲和放大圖像的10：1還原透鏡。此外，對於需要ESD（電子顯微鏡衍射）的應用，ZEISS 1455VP配備了集成的ESD系統和一整套附件。1455VP的一個獨特特征是LEO M-View模式,它允許用戶觀察熒光、掃描和透射電子顯微鏡中的圖像比較,從而創建全面的研究。總體而言,LEO/ZEISS 1455VP SEM是一種功能強大的工具,能夠提供更高的分辨率、可靠性和準確性,並為用戶提供掃描電子顯微鏡性能的極致。
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