二手 LEO / ZEISS 1530 #293631668 待售

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製造商
LEO / ZEISS
模型
1530
ID: 293631668
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Vacuum pump missing Pre-pump missing Module board non-functional CPU Damaged.
LEO/ZEISS 1530是一種完全集成的多功能場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)。它旨在為研究和工業領域的粒子表面和其他樣品提供高分辨率成像。這款FE-SEM配備了電子反向散射衍射、能量色散X射線光譜、掃描透射電子顯微鏡、電子斷層掃描、低壓顯微鏡等最新技術,適用於廣泛的應用。LEO 1530提供了高分辨率成像和高級分析能力的卓越組合。它的高精度納米級性能使它能夠提供清晰、高分辨率的粒子圖像,其大小從幾納米到幾百微米不等。自動幹燥的液氮冷卻電子源提供穩定和長期的高分辨率成像,而自動化的二次和反向散射電子探測器(BSED)則可以方便地表征電子衍射圖樣、晶界和其他樣品特征。FE-SEM還具有先進的自動化功能,包括自動聚焦功能和自動化的樣品處理系統,可實現快速準確的樣品定位。此外,各種特定於站點的探針使用戶能夠快速獲取納米級的數據。蔡司1530提供多種分析能力,包括能量色散X射線光譜(EDX)、電子能量損失光譜(EELS)和X射線光電子光譜(XPS)。通過將EDX和EELS與STEM成像配對,用戶能夠分析樣品的元素組成、鍵合能量、電子結構和鍵合長度。XPS成像系統還提供了額外的一層信息,允許用戶調查樣品的組成、氧化狀態和化學環境。1530還具有先進的軟件包,其中包括調整成像參數以進行最佳分析、執行自動測量以及生成不同類型顯微鏡圖像的能力。此外,此軟件包還提供3D成像功能,允許用戶從不同角度分析示例特征。這些功能結合了LEO/ZEISS 1530出色的性能和高分辨率成像功能,使其成為各種納米級應用的理想工具。
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