二手 LEO / ZEISS 1530 #293764386 待售

LEO/ZEISS 1530掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高精度儀器，用於對各種各樣的樣品進行成像和分析。利用電子束掃描樣品，形成分辨率為0.8 nm的圖像。這使得SEM在觀測即使是最小的粒子時也極為強大和通用。掃描電子顯微鏡有一個帶有透鏡系統的圓柱，用於聚焦電子束和掃描樣品。該柱包括產生高壓調制電子束的電子源和捕獲電子撞擊樣品時產生的二次電子的檢測器。此特征有助於準確估計樣本地形。在高真空和低真空中均可觀察到樣品。這樣可以在不同的環境中成像,同時避免或最小化意外漂移的影響。一個附著的X射線檢測器用來收集和測量樣品中X射線的性質。SEM提供了多種功能來支持樣品的成像和分析。它包括各種鏡頭、濾鏡和探測器，可用於調整成像參數和優化圖像分辨率或對比度。此外，還有一個可調節的自動化系統，便於調整各種參數，以便集中於特定區域或分析整個樣本。X射線光譜、波長色散光譜、電子反向散射衍射等測量工具種類繁多。LEO 1530 SEM是研究人員尋找以無與倫比的精度觀察、分析和比較各類樣品的理想工具。眾多的特點和自動化的系統使這種掃描電子顯微鏡成為任何研究人員或實驗室的通用工具。