二手 LEO / ZEISS 1530 #9244400 待售
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已售出
ID: 9244400
優質的: 1999
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron source: Schottky field emitter
Resolution:
1 nm @ 20kV (2 mm WD)
3 nm @ 1kV (2 mm WD)
Accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Probe current: 4pA to 10nA
Magnification: 20x to 900,000x
E-T Secondary electron detector
High efficiency in-lens electron detector
ROBINSON BSD
IR Chamberscope
Eucentric 5-axis motorized stage:
X: 75 mm
Y: 75 mm
Z: 25 mm
Tilt: -15° to 90°
Rotate: 360°
Does not include EDX
No EDS
1999 vintage.
LEO/ZEISS 1530是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),它利用電子的力量以前所未有的細節可視化和分析各種各樣的材料和物體。LEO 1530由光學巨星LEO與著名的蔡司公司的工程學設計而成,具有對單個原子成像的靈敏度,以及揭示迄今不可見的微觀結構的分辨率。ZEISS 1530的核心是3.5 nm場發射電子槍,能夠產生規則電子束和可變形狀束(VSB)以獲得更高的分辨率。這款電子槍配備了靜電透鏡、磁性線圈、波導等一系列收集裝置,用於將光束聚焦到只有幾微米大小的點。這項功能使1530在對小型結構進行成像時具有非凡的細節和準確性。除了令人印象深刻的電子槍,LEO/ZEISS 1530還配備了廣泛的分析和檢測系統。其中包括用於分析樣品組成和鍵合的先進能量濾波器、用於測量電子束感應充電的專用檢測器以及用於二次電子成像的二次檢測器。這套組件為高級材料表征開辟了令人興奮的可能性。LEO 1530還利用創新的電子柱技術,對束的角度提供控制,減少電子散射。這提高了儀器的整體分辨率,使其能夠對更小、更詳細的特征(如表面地形)進行成像。外部分析可以用SEM的X射線和質譜系統進行。這些是測量樣品化學成分的關鍵組成部分,蔡司1530配備了範圍廣泛的探測器,以實現精確的讀數。該軟件包采用直觀且易於使用的圖形用戶界面,旨在利用1530令人印象深刻的圖像和分析功能。這種直觀的GUI允許用戶設置和調整各種參數,以及利用自動工作流。總體而言,LEO/ZEISS 1530是一款出色的掃描電子顯微鏡,可為用戶提供出色的成像和分析功能。LEO 1530擁有先進的電子槍以及一系列探測器和分析系統,在成像材料和物體時提供無與倫比的精度和分辨率。這使得它成為高分辨率至高無上的研究和工業應用的理想工具。
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