二手 LEO / ZEISS 1550 #293636318 待售
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ID: 293636318
Scanning Electron Microscope (SEM)
Detectors:
SE
QBSD
STEM
EDX
In-lens
Power supply:30 kV.
LEO/ZEISS 1550掃描電子顯微鏡（SEM）是一種多功能儀器，配備了先進的成像和分析技術。LEO 1550 SEM的電子柱裝有肖特基電子槍、場發射槍（FEG）、鎢合成尖端視圖。它還包括一個高真空設備，在10-8 Pa的工作壓力下保持電子束在超高真空下，這保證了最高的信號產率和最優的圖像分辨率。ZEISS 1550 SEM的光學系統包括高分辨率掃描透射電子顯微鏡（S/TEM）、次級和反向散射電子檢測器（BSD）、帶電粒子檢測器和X射線檢測器。S/TEM模式提供了較大的景深，使其能夠在較高的放大倍率下成像材料。除成像外，該單元還可用於通過能量色散X射線光譜（EDX）或波長色散X射線光譜（WDX）分析樣品元素，提供定性和定量結果。1550 SEM允許用戶執行各種各樣的成像和分析任務。該機可用於高放大倍率、亞微米特征甚至納米級分析的表面地形檢測。它還提供了結構和界面的三維分析、納米材料的3D數字斷層掃描方法以及化學成分和圖像對比的同時成像-使用戶能夠輕松識別樣品中的不同元素並準確分析其分布。LEO/ZEISS 1550 SEM還提供了先進的硬件支持選項,包括大型工作室溫度、可調節的臺高成像、大型樣品的自動成像、機動化和可編程的遍歷,以及用於對大量相同碎片進行自動成像的大型樣品加載功能。LEO 1550 SEM甚至包括工作流自動化功能和軟件支持選項,允許用戶使用高效直觀的用戶界面訪問和管理大量數據。為確保最佳成像性能和準確性,SEM具有全自動特征識別（AFR）工具、成像效果檢測資產和應力分析模型。總體而言,ZEISS 1550掃描電子顯微鏡提供了全面的成像和分析功能,可套用各種應用程序。這使其成為研發、質量控制、故障分析的理想設備。
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