二手 LEO / ZEISS 1560 #9272757 待售
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已售出
ID: 9272757
優質的: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Uniplinth upgraded
Operating system: Windows 7
Does not include:
EDX
Evactron
1998 vintage.
LEO/ZEISS 1560掃描電子顯微鏡(SEM)是一種用途廣泛、可靠的工具,用戶可以觀察和分析放大倍數高達250,000倍的樣品。它是一種高性能、低電壓的SEM,具有極好的景深和分辨率的軸上系統,是許多研究人員和技術人員的首選工具。LEO 1560 SEM以肖特基場發射槍為特色,提供了電子光學的現代解決方案和改進的信噪比。它具有0.2到10 µm2的可變光斑大小,用於高分辨率成像和分析。該SEM還提供了一個Everhard-Thornley多段二次電子檢測器,用於精確的元素分析。此外,ZEISS 1560還有一個用於濺射塗層的集成腔室,該槍可以裝上2mm的反向散射探測器,使其能夠執行各種成像和探測器模式。對於成像,1560 SEM可以使用各種技術來探索標本表面和特征。這些包括二次電子成像、相差成像、反向散射電子成像、手動和自動傾斜成像、柱頭和暗場成像以及能量色散X射線映射。此外,此SEM的精度允許使用地形、線條輪廓、粒子分析和自動表面測量進行3 D成像。LEO/ZEISS 1560 SEM還為實驗設計提供了更大的靈活性。它有一個數字操縱桿,允許在觀察實時SEM圖像的同時進行手動標本導航。此外,還可以添加一個可選的掃描階段,允許在幾種模式下自動掃描和記錄。它還允許各種傾斜角度,使得它完美的橫截面調查。最後,LEO 1560 SEM提供了一個用戶友好的控制界面,具有多種操作特性和功能。它配備了Autofocus程序、具有多個參數的預設庫、角度測量系統和自動恢復系統。這樣可以確保SEM在操作過程中保持安全可靠。所有這些功能使ZEISS 1560 SEM成為獲取詳細而準確的圖像和數據以滿足一系列研究和工業需求的寶貴工具。
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