二手 LEO / ZEISS 430i #9407378 待售

LEO/ZEISS 430i掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能、雙束FIB/SEM成像設備。LEO 430i SEM將業界領先的分辨率與成像和處理納米級結構的能力相結合,促進了廣泛的材料分析應用。它具有高清柱,可實現1納米分辨率的成像功能,其先進的高功率陰極/陽極雙光束系統可實現多模操作,從而對非常小的物體進行高級表征和操作。SEM列旨在促進高分辨率成像,同時仍提供處理各種樣本量和類型所需的靈活性。ZEISS 430i配備了二次電子（SE）探測器、反向散射電子（BSE）探測器和帶有場發射槍的化學分析探測器，允許快速成像。其中包括氣體註入裝置，允許在成像和操作過程中根據需要引入功能性氣體。430i的多模操作由其可變壓力/低真空（VP/LV）配置啟用。這允許對難以成像的材料進行高級表征,在這些材料中,可以對環境進行操作以實現高分辨率成像。LV模式為成像微粒、緩慢排水薄膜或橫截面較厚的薄膜提供了低能環境，在較高的真空中需要較大的電子劑量。LEO/ZEISS 430i帶有360度旋轉級和6軸采樣級,具有平面內和平面外操作功能,可方便地對特定感興趣的區域進行成像和操作。此外,它還具有多種控制模式,如自動對焦、自動汙名化和自動曝光,為用戶提供對圖像環境的完全控制。LEO 430i可與各種自動化樣品處理系統集成,從而實現更大的靈活性。綜上所述，LEO 430iScanning電子顯微鏡是一種功能強大的雙束FIB/SEM成像機，能夠提供高分辨率的納米級物體成像和操作。其精密的列和GIS工具允許對各種材料的成像環境進行操作，而其控制模式和自動化的樣品處理系統為用戶提供了任何分析應用所需的靈活性。