二手 LEO / ZEISS 435VP #293651569 待售

LEO / ZEISS 435VP
製造商
LEO / ZEISS
模型
435VP
ID: 293651569
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS 435VP是一種功能強大的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高級和分析性能。這款尖端儀器配備了廣泛的特點,如高分辨率、場發射亞納米電子源、反向散射電子探測器和二次電子探測器,以及高放大倍數雙束設備。它非常適合具有挑戰性樣品的研究應用,如半導體晶片、薄膜和生物標本。LEO 435VP能夠以極好的對比度提供高度詳細的圖像,使用戶能夠識別和可視化樣品的微觀和納米尺度特征。它采用最先進的模塊化設計,配有一系列易於互換的配件和探測器,讓用戶根據自己的具體需求定制自己的儀器。對於優越的樣品保存,蔡司435VP還具有一個低真空室,這有助於保持低,穩定的壓力同時避免強氣流和防止氧化。這結合其先進的成像能力,使435VP成為分析研究的理想工具。除了成像性能外,LEO/ZEISS 435VP還配備了一套自動化軟件工具,便於操作和分析。其中包括半自動圖像優化系統(SAIOS)、實時圖像采集單元(RTAIS)和雙光束機自動駕駛儀(DBSA)。SAIOS允許用戶快速調整多個參數,例如亮度和對比度,以最大限度地提高圖像質量。RTAIS提供SEM參數的實時反饋,使用戶可以對其成像工具進行即時調整。DBSA優化雙光束成像參數,獲得最佳整體性能。總體而言,LEO 435VP是一種先進且功能豐富的掃描電子顯微鏡,非常適合需要高質量成像性能和可定制檢測選項的研究應用。其模塊化設計、自動化軟件工具以及專門的樣品保存功能,使其成為一種強大可靠的科學儀器。
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