二手 LEO / ZEISS 435VP #9255854 待售

LEO/ZEISS 435VP掃描電子顯微鏡是一種高性能儀器，旨在提供卓越的成像能力和分析性能。它特別適合於納米級結構分辨率的成像和分析。這種顯微鏡利用了一種場發射電子源，其設計目的是提供更好的電子亮度，更大的透射值和顯著的柱壽命。因此，在高探針電流水平下，顯微鏡提供了高達10 nm的驚人分辨率。試樣可以放在樣品支架插件上，這樣可以進行試樣操作。分析過程中的定向由自動6軸電動級提供，通過高分辨率壓電運動可以實現復雜的運動。舞臺能夠圍繞垂直軸、角軸或法線方向定義的第三軸以線性或旋轉的方式移動試樣。系統的用戶可以利用各種探測器來捕捉圖像。發射的電子探測器可以捕獲反向散射電子和二次電子中的圖像，以實現與樣品表面和體積的對比度。反向散射電子也可以用二次電子檢測器觀察。這些特性由STEM探測器補充，用於明暗場成像或兩者結合。顯微鏡進一步配備了自動化數字成像系統和自動對準能力。這有助於使用包含的集成相機和創建蒙太奇膠片環路進行成像記錄。該系統還具有高達500 Hz的可調掃描速度，為用戶提供了模擬光學微觀結構分辨率的選項。為了提供分析能力，顯微鏡利用能量色散X射線光譜儀進行元素分析，使用戶能夠識別樣品上各種特征的化學成分或厚度。LEO 435VP掃描電子顯微鏡的高對比度成像和先進能力相結合，成為納米級研究和分析的寶貴工具。