二手 LEO / ZEISS Supra 40VP #293636806 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

ID: 293636806
Scanning Electron Microscope (SEM) Schottky Field Emission EDAX Everhart-Thornley (Hi-Vacuum) Secondary electron detector OXFORD Electron diffraction Resolution: 1 nm at 20 keV Backscatter detector: 4-Quadrant Variable Pressure Secondary Electron Detector Oil-free rotary pump Turbo (2) Ion getters OXFORD X-Max 80 mm2 SDD EDS EBSD Oxford/Nordlys HKL 9-Pin Wafer section Multipurpose variable clamp Thin section 1" Metallurgical holder HASKRIS Air-cooled Gas requirements: Nitrogen, Compressed air Operating system: Windows 7 Power requirements: 220V.
LEO/ZEISS Supra 40VP是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對各種樣品進行超高分辨率成像。它具有可變壓力柱,工作距離可達14毫米,Everfab源為120厘米²。其飛利浦X'Pert Pro平臺是一個功能強大且可靠的平臺,能夠以高達200,000倍的放大倍數探測物體的微觀結構。LEO Supra 40VP配備了幾個組件,這些組件在高放大倍率下有助於其卓越的分辨率和圖像清晰度。它最重要的部件之一是Everfab Source,它配備了伽馬校正電子束和多節段CCD探測器。這種先進光學器件的組合使得樣品分辨率超過0.6 nm。設備的另一個重要組成部分是EDAX創世紀光譜儀,它可以用來檢測和分析樣品的組成而不會損壞它們。除了卓越的成像功能外,Supra 40VP還具有一系列旨在方便使用的功能。這包括獲得專利的噪聲抑制技術、直觀的觸摸屏界面以及自動對準、校準和參考過程。該系統還提供強大的成像和分析工具,如電子反向散射衍射(EBSD)和能量色散光譜(EDS)。EBSD允許鑒定和分析樣品中的結晶相,EDS提供元素周期表中所有元素的定性和定量成分分析。ZEISS Supra 40VP還配備了自動樣品制備單元,由自動真空蒸發器和自動濺射塗層組成。這臺機器使用戶能夠統一準備用於成像和分析的樣品。總體而言,Supra 40VP是一種用途廣泛、功能強大的掃描電子顯微鏡,專門設計用於對各種樣品進行高分辨率成像和分析。它的高質量組件和自動化過程使用戶能夠以前所未有的細節快速準確地分析樣品。
還沒有評論