二手 LEO / ZEISS Supra 55-VP #293709609 待售
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ID: 293709609
優質的: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM)
Load ability, 6" (152.4 x 152.4 mm)
X and Y Travel stage: 130 mm (±65 mm)
Vacuum detector
AMETEK Apollo X: 10mm²
PC
Operating system: Windows 10
Detectors:
SE
VPSE
STEM
BSE
EDX
2008 vintage.
LEO/ZEISS Supra 55-VP是一款前沿掃描電子顯微鏡（SEM），以先進的成像能力和高性能規格而聞名。該儀器由LEO和ZEISS之間享有盛譽的合作夥伴關系設計制造，代表了德國卓越工程技術和創新顯微鏡技術的融合。LEO Supra 55-VP配備了廣泛的功能，可以滿足廣泛的科學應用，使其成為材料科學、生命科學、納米技術等各個領域研究人員不可或缺的工具。ZEISS Supra 55-VP的核心是其電子光學系統，它提供卓越的成像分辨率和靈敏度。顯微鏡配備了場發射電子源，產生具有納米尺度空間分辨率的高度聚焦電子束。這使樣品的可視化和分析具有突出的細節和清晰度，使研究人員能夠以前所未有的精確度探索樣品的微觀和納米結構。Supra 55-VP提供了具有多種操作模式的多功能成像平臺,包括高真空、低真空和環境SEM模式。高真空模式是高放大率成像導電樣品的理想選擇，而低真空模式允許分析非導電或水合樣品而無需樣品制備。環境SEM模式能夠對受控氣體環境中的樣品進行成像，提供對納米級動態過程和反應的寶貴見解。此外,LEO/ZEISS Supra 55-VP還配備了一整套探測器和附件,可增強其成像能力和分析性能。這些包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、能量色散X射線光譜（EDS）系統、電子反向散射衍射（EBSD）探測器。這些探測器能夠表征樣品組成、地形、晶體學和元素分布，為研究人員提供了豐富的信息來支持他們的科學研究。LEO Supra 55-VP由直觀且用戶友好的軟件控制,允許無縫操作和數據采集。顯微鏡軟件使用戶能夠輕松瀏覽復雜的成像工作流程、調整成像參數和分析獲取的數據。而且，ZEISS Supra 55-VP配備了先進的自動化功能，如自動對焦、自動汙名化和自動槍對準，簡化了成像過程，確保了一致可靠的結果。總之，Supra 55-VP掃描電子顯微鏡是一種最先進的儀器，在成像分辨率、分析性能和用戶體驗方面設定了新的標準。LEO/ZEISS Supra 55-VP擁有先進的電子光學、通用的成像模式、全面的探測器系統和用戶友好的軟件,是研究人員尋求以前所未有的細節和精確度探索納米世界的強大工具。其強大的設計、尖端技術和卓越的性能使其成為從事尖端科學研究的實驗室和研究設施不可或缺的資產。
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