二手 LEO / ZEISS Supra #293831981 待售

LEO/ZEISS Supra是由著名的科學儀器公司LEO和領先的電子顯微鏡公司ZEISS合作設計制造的高性能掃描電子顯微鏡（SEM）。這一先進的成像系統配備了尖端技術和功能，能夠在納米級對納米結構和材料進行高度詳細和精確的成像。主要特點和規格：LEO Supra SEM是用一個場發射槍（FEG）電子源構建的，它提供了一個高度相幹和明亮的電子束，以提供卓越的成像分辨率。FEG源還能夠在成像模式之間快速切換，增強顯微鏡的整體穩定性和性能。顯微鏡具有通用的電子光學柱，允許操縱束能量、束電流、束聚焦等束設置，為用戶提供針對不同樣品類型和應用優化成像條件的靈活性。ZEISS Supra配備了高精度的標本級，能夠在成像和分析過程中對樣品進行精確定位和操作。舞臺可以多軸控制，與各種樣品支架及配件兼容，滿足不同的實驗需求。Supra的一個突出特點是其先進的成像探測器，包括二次電子（SE）探測器、反向散射電子（BSE）探測器和能量色散X射線光譜（EDS）探測器。這些探測器能夠從樣品表面收集各種信號，提供有關樣品組成、地形和晶體學結構的寶貴信息。SEM配備了精密的控制和成像軟件界面，使用戶可以輕松導航和控制顯微鏡功能，調整成像參數，獲取圖像和數據，並執行高級圖像處理和分析任務。該軟件還支持自動化功能,以實現高效的數據采集和分析工作流程。應用與效益：LEO/ZEISS Supra SEM廣泛應用於各種科學和工業應用，包括材料科學、納米技術、半導體研究、生物成像和故障分析。它特別適合於成像和分析廣泛的樣品，包括金屬、聚合物、陶瓷、復合材料、生物組織和納米顆粒。LEO Supra的高分辨率成像能力使其成為研究納米結構、表面形態和納米級材料特性的寶貴工具。研究人員和科學家可以利用SEM對晶界、晶體缺陷、表面粗糙度和粒子分布等特征進行研究，並具有非凡的細節和清晰度。顯微鏡先進的EDS系統能夠對樣品進行定性和定量的元素分析，為樣品組成、元素分布和化學鍵合提供有價值的見解。這些信息對於了解材料特性、識別汙染物、表征塗層以及研究納米級的化學反應至關重要。除了成像和分析功能外，ZEISS Supra SEM還提供先進顯微鏡技術的功能，如電子束光刻、電子衍射和陰極發光成像。這些技術進一步擴大了顯微鏡的能力，並允許對樣品進行更全面和詳細的表征。總體而言，Supra掃描電子顯微鏡結合了最先進的技術、高性能成像能力和人性化操作，為研究人員和科學家提供了探索納米世界和推進科技各領域知識的強大工具。