二手 PARK SYSTEMS XE-100 #293608216 待售

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ID: 293608216
Atomic Force Microscope (AFM).
PARK SYSTEMS XE-100是為研究人員和科學家設計的高度先進的微觀設備。這款多功能顯微鏡擁有令人印象深刻的一系列功能,可輕松執行各種成像和分析任務。該系統利用XYZ bruker幹涉儀進行精確的納米測量。XE-100包含高放大倍率範圍的高分辨率彩色相機,可在低放大倍率和高放大率時進行詳細分析。此外,該單元還配備了支持Photoshop或其他圖像處理軟件的照相機。這允許用戶快速繪制、眨眼或比較圖像。顯微鏡還配備了半自動化軟件,使得進行納米級測量變得簡單高效。PARK SYSTEMS XE-100得益於全自動的3軸級,它與氦離子納米操作器相結合。這樣可以進行精確、精確的樣品處理,以及更好的追蹤和泄漏檢測。此外,微機械手可以支持視頻和成像任務,包括高分辨率SEM分析和斷層掃描。此外,該工具還配備了自動化的環境和流體控制,使用戶能夠在實地進行復雜的實驗。用戶友好、直觀的圖形資產使用戶能夠輕松地快速瀏覽實驗。XE-100還支持自動深度剖析和元素分析,允許用戶利用各種成像技術,包括X射線光電子光譜(XPS)和俄歇光譜。此外,該模型與豐富的環境、成像和光譜參數數據庫兼容。這樣可以確保用戶可以輕松進行高級實驗並跟蹤結果。PARK SYSTEMS XE-100是需要最新顯微鏡技術以達到最高精度、靈活性和效率的研究實驗室和大學的理想解決方案。該設備結合了優越的光學和人體工程學,使其成為一系列應用的理想選擇。
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