二手 PARK SYSTEMS XE-100 #293772516 待售

ID: 293772516
Atomic Force Microscope (AFM).
PARK SYSTEMS XE-100是一種先進的高性能掃描電子顯微鏡(SEM),專為各種納米技術研究和分析應用而設計。XE-100采用最先進的技術和精密工程技術,提供卓越的成像功能和分析工具,用於在納米級進行詳細的表面表征。PARK SYSTEMS XE-100的關鍵特征之一是其超高分辨率成像功能,使研究人員能夠以無與倫比的清晰度和細節可視化和分析樣品。通過將分辨率降至亞納米級,XE-100可以顯示常規光學顯微鏡無法看到的表面特征、缺陷和結構。PARK SYSTEMS XE-100配備了場發射電子源,為成像和分析提供了高度聚焦的電子束。這種電子源產生了一個精細的探針,可以高精度掃描樣品表面,從而能夠在納米級對樣品進行成像和光譜分析。除了成像之外,XE-100還提供了廣泛的分析功能來表征材料特性和組成。該儀器配備了能量色散X射線光譜(EDS)和電子反向散射衍射(EBSD)探測器,讓研究人員以高空間分辨率對樣品進行元素分析和晶體學映射。PARK SYSTEMS XE-100還具有高級掃描模式,如原子力顯微鏡(AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM),它們補充了SEM成像能力。這些附加模式使研究人員能夠在原子尺度上獲得地形信息、測量表面粗糙度和探測表面性質。此外,XE-100設計易於使用和直觀操作,具有用戶友好的界面和軟件,使研究人員能夠控制顯微鏡的各個方面,並以高效和準確的方式執行復雜的成像和分析任務。該儀器還為日常任務提供自動化功能,如樣本導航、圖像采集和數據分析,簡化工作流程並提高實驗室的生產率。PARK SYSTEMS XE-100廣泛應用於各種研究領域,包括材料科學、半導體分析、生物學和納米技術,其中納米結構的精確成像和分析至關重要。它的高性能、多功能性和可靠性使其成為尋求探索和了解納米級材料特性的科學家和研究人員的寶貴工具。總之,XE-100掃描電子顯微鏡是為納米技術研究提供卓越成像和分析能力的尖端儀器。PARK SYSTEMS XE-100具有高分辨率、先進的功能和用戶友好的設計,是一個強大的工具,可以精確、精確地研究和表征各種材料和納米結構。
還沒有評論