二手 PARK SYSTEMS XE-100 #293823195 待售

PARK SYSTEMS XE-100是一種尖端掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和分析納米級的各種材料。由原子力顯微鏡（AFM）和SEM解決方案的領先提供商PARK SYSTEMS開發,XE-100集成了先進的技術,在成像、分析和表征任務方面提供卓越的性能。PARK SYSTEMS XE-100的核心是一個場發射電子源，它產生一個聚焦電子束，用於超高分辨率成像樣品。SEM利用一系列電磁透鏡和探測器來操縱和捕獲電子束，使用戶能夠以無與倫比的細節檢查樣品的表面結構和特性。XE-100的突出特點之一是其高分辨率成像能力，使研究人員和科學家能夠以亞納米分辨率可視化樣品表面。這一級別的細節對於研究納米結構、納米粒子、薄膜和其他需要精確成像才能進行全面分析的材料至關重要。除了成像之外，PARK SYSTEMS XE-100還提供先進的分析能力，包括能量色散X射線光譜（EDS）和電子反向散射衍射（EBSD）。通過檢測電子束與樣品相互作用時發出的特征X射線，EDS能夠對樣品進行元素分析，提供有關材料組成的寶貴信息。同樣,EBSD是一種強大的技術,使用戶可以檢查材料中的晶體學取向和晶粒結構,從而能夠精確描述樣品中的晶界和缺陷。這些分析技術與高分辨率成像相結合，使XE-100成為材料科學研究、半導體分析和其他需要詳細樣品表征的領域的通用工具。PARK SYSTEMS XE-100配備了一個直觀的用戶界面，簡化了操作和數據采集，允許用戶快速設置成像和分析實驗。軟件界面支持實時控制成像參數,例如加速電壓、光束電流和掃描速度,從而確保針對各種樣品類型和分析要求的優化性能。此外,XE-100還配備了具有精確定位功能的電動舞臺,使用戶能夠輕松掃描大面積樣品或執行高精度測量。該階段可以通過軟件界面進行控制，提供自動映射和成像功能，以高效收集和分析工作流程。PARK SYSTEMS XE-100還具有靈活性和可擴展性,還提供了附加附件和模塊選項,以進一步增強其功能。用戶可以集成額外的探測器、階段和分析工具，為特定的研究需求定制SEM，使其成為材料科學、生命科學和納米技術領域廣泛應用的通用平臺。總體而言,XE-100掃描電子顯微鏡結合了先進的技術、高分辨率成像和分析功能,具有用戶友好和通用的軟件包。PARK SYSTEMS XE-100具有在納米級可視化和分析樣品的能力，是研究人員、科學家和尋求探索和了解原子和分子級材料特性的行業專業人士的寶貴工具。