二手 PARK SYSTEMS XE-300 #9221612 待售

PARK SYSTEMS XE-300是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）,它提供了先進的能力來捕獲分辨率低至0.75 nm的納米級結構的高分辨率圖像。XE-300利用Everhardt-Thornley可變壓力系統（VPS）為高真空和低真空模式下的操作提供優化的試樣室控制。PARK SYSTEMS XE-300采用尖端圓柱設計，配有兩級槍，由鏡內槍和鎢絲電子槍組成。這種雙槍允許XE-300捕捉超高分辨率的圖像，即使在高放大倍數。此外，鏡頭內槍允許更快的成像速度高達3200倍線速率。PARK SYSTEMS還XE-300利用優化的Cs-校正器系統來減少球面像差並最大化圖像對比度。XE-300還為納米材料的表征提供了廣泛的分析能力。使用能量色散X射線光譜儀（EDS），用戶可以進行元素分析和識別材料成分。另外，PARK SYSTEMS XE-300配備了X射線螺旋光譜儀（XAES）和波長色散X射線光譜儀（WDS），可用於測量材料的化學成分。使用可選的電子反向散射衍射（EBSD）單元，用戶還可以進行晶體學測量和分析晶體結構。XE-300提供了一系列功能,使用戶能夠準確控制和自動化成像和分析過程。這包括用於快速設置的直觀用戶界面、用於反向安裝樣品的六輸入樣本支架以及用於精確掃描的高級舞臺運動控制。使用PC控制的探測器光學器件,用戶可以控制SEM圖像中探測器的存在,從而提供更高的圖像清晰度和對比度。總體而言，PARK SYSTEMS XE-300是一種先進的掃描電子顯微鏡，非常適合捕捉納米級結構的超高分辨率圖像。XE-300具有多種分析功能和先進的自動化功能,為納米材料的研究提供了無與倫比的能力。