二手 PARK SYSTEMS XE-70 #9225309 待售
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已售出
ID: 9225309
Atomic Force Microscope (AFM)
XY Scanner:
Single-module flexure with closed-loop control
UV LED Head has been replaced
Computer with (2) monitors
Controller
Light source
Scan range:
100 μm x 100 μm
50 μm x 50 μm
10 μm x 10 μm
Manual stage:
XY Travel range: 13 x 13 mm
Z Travel range: 29.5 mm
Focus travel range: 70 mm
Z Scanner range:
Guided high-force Z scanner
Scan range: 12 µm, 15 µm
Sample mount:
Sample size: Up to 100 mm
Thickness: Up to 20 mm
Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
Coupled with 10x objective lens
Field-of-view: 480 x 360 µm
CCD: Mpixel
Electronics:
DSP: 600 MHz with 4800 MIPS
Maximum 16 data images
Maximum data size: 4096 x 4096 Pixels
Signal inputs: 20 Channels of 16 bit ADC at 500 kHz samplings
Signal outputs: 21 Channels of 16 bit DAC at 500 kHz settling
Synchronous signal:
End-of-image
End-of-line
End-of-pixel TTL signals
Includes:
ACOUSTIC Enclosure
MINUS K TECHNOLOGIES Platform
Power: 120 W
CE Marked.
PARK SYSTEMS XE-70是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），旨在滿足納米技術和材料科學等不同領域研究人員的需求。XE-70提供獨特的動態成像功能,使其成為高分辨率成像、表面表征和三維分析的理想選擇。PARK SYSTEMS XE-70配備了一個大型高靈敏度1200萬像素數碼相機和一個寬帶能量探測器，可捕獲分辨率高達1納米的圖像。其高壓電子源能夠產生從0.5到100keV的光束，並提供廣泛的分析技術，包括電子反向散射衍射、二次電子成像和X射線微分析。XE-70還提供了廣泛的樣本階段，以容納許多不同大小和形狀的標本。PARK SYSTEMS XE-70擁有許多增強功能，使其成為進行精密研究的理想選擇。其環境控制系統在操作過程中保持穩定的真空水平，最大限度地減少了環境振動的幹擾，非常適合高分辨率成像。XE-70還具有一個用戶友好的數字界面，使它易於操作顯微鏡和操作其設置。此外，其集成的圖像處理軟件使處理數據和創建高質量圖像變得容易。總體而言，PARK SYSTEMS XE-70是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡，提供無與倫比的性能和靈活性。它具有捕捉高分辨率圖像的能力和廣泛的分析能力，是不同領域研究人員的理想選擇。
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