二手 PARK SYSTEMS XE-HDM #9394707 待售

PARK SYSTEMS XE-HDM是由PARK SYSTEMS設計的高性能掃描電子顯微鏡（SEM），用於進行高分辨率材料科學和計量研究。XE-HDM SEM利用最先進的場發射槍（FEG）電子源結合創新的電子光學設計，達到1.2 nm的高分辨率。PARK SYSTEMS XE-HDM還配備了二次電子（SE）、反向散射電子（BSE）、場發射掃描（FESEM）探測器。XE-HDM為用戶提供了一個大的動態範圍的優勢，允許從納米尺度到更大的樣本尺度的觀測。PARK SYSTEMS XE-HDM利用高性能的FEG電子源，產生高亮度的電子束，具有出色的能量穩定性，從而產生高分辨率的圖像。XE-HDM能夠實現低至1.2 nm的分辨率,工作距離可達0.7 mm。PARK SYSTEMS XE-HDM還通過其能量色散X射線光譜（EDS）和波長色散X射線光譜（WDX）系統提供兩種分析能力。EDS和WDX系統能夠進行元素或成分分析,空間分辨率為0.6 µm。XE-HDM配備了兩個用於地形成像的二次電子探測器，一個低真空BSE探測器，一個無窗柱內探測器和一個小角度散射（SAS）探測器。BSE檢測器非常適合對金屬和復合樣品進行成像，以及繪制局部化學性質變化圖。PARK SYSTEMS XE-HDM還配備了現場發射掃描（FESEM）探測器，提供了極高分辨率的成像能力。FESEM能夠以低至0.8 nm的分辨率成像。XE-HDM系統除了具有成像功能外,還提供了許多功能,使其成為計量研究的強大工具。PARK SYSTEMS XE-HDM配備了獨一無二的自動化聚焦特征查找器（FFF）系統，可以定位樣品邊緣，並以高精度自動聚焦電子束。XE-HDM提供各種自動化測量,例如厚度和粗糙度測量以及面積測量。PARK SYSTEMS XE-HDM還提供間隙檢測和步長測量選項,用於分辨率高達1 nm的自動測量。XE-HDM是一種能夠進行掃描的電子顯微鏡，適用於材料科學和計量研究。PARK SYSTEMS XE-HDM憑借其創新的電子光學設計和高性能的FEG電子源，提供出色的分辨率和廣泛的分析能力。XE-HDM的自動化焦點查找器和各種自動化測量為用戶提供了一個用於計量研究的強大工具。