二手 PHILIPS CM10 #293645024 待售
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ID: 293645024
Transmission Electron Microscope (TEM)
Chiller
Power
(2) Vacuum pumps
CTI 8200 Compressor
(8) Grinding equipment
Microtom
QUORUM / POLARON SC7640 Sputter coater
(2) BRINKMANN Retsch RMO mortar grinders.
飛利浦CM10掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高度先進的工具，用於可視化和測量各種材料的表面特征，分辨率高達1納米，是所有SEM中最高的。CM10是一種先進的野外發射槍（FEG）SEM，配備了列內EDX探測器、高壓氣體系統、低真空探測器、低能反向散射探測器和多通道成像探測器。它擁有一系列非凡的功能,包括廣闊的視野、卓越的分辨率和先進的圖像信號處理功能。飛利浦CM 10的FEG賦予它出色的對比度和高分辨率。這類電子槍利用強電場從發射器中提取電子，從而使電子束具有更大的穩定性和控制力。其高對比度和分辨率使得它適用於分析和測量表面到納米尺度，以及觀察表面形態。能量色散X射線檢測器使CM10能夠在成像過程中分析樣品的元素組成，不需額外處理即可識別表面組成。該檢測器能夠收集高靈敏度和高分辨率的X射線光譜，並針對最小的樣品制備和簡單的數據采集進行了優化。飛利浦CM10視野廣闊，高達12毫米，適合成像大型樣品，如集成電路和晶圓。對於納米尺度特征的最佳分辨率，可以進一步調整這種寬視野。CM10還擁有高壓氣體系統、低真空探測器和低能反向散射探測器。高壓氣體系統允許顯微鏡內的樣品操作，如氣體輔助運動或樣品註入。低真空探測器用於檢測從特定納米範圍反射的電子，允許對深層結構和其他特征進行成像，否則很難檢測到。低能反向散射探測器檢測弱背景輻射，可以幫助識別納米級的特征。飛利浦CM10還配備了多通道成像探測器。它用於同時以更有效的方式檢測多個EM字段,從而能夠獲取更詳細的圖像。總體而言,CM10是一個高級、高分辨率的SEM,具有廣闊的視野、強大的檢測器和列內EDX。PHILIPS CM10具有令人印象深刻的一系列功能,非常適合對各種材料的表面特征進行成像和測量,甚至可用於測量最小的納米級特征。
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